Exam text content

ELE-4250 Elektroniikan miniatyrisointi - 20.02.2012

Exam text content

The text is generated with Optical Image Recognition from the original exam file and it can therefore contain erroneus or incomplete information. For example, mathematical symbols cannot be rendered correctly. The text is mainly used for generating search results.

Original exam

ELE-4250 Elektroniikan minityrisointi
Tentti 20.2.2012 / Ville Pekkanen
Tentissä ei saa käyttää laskinta.

Maksimipistemäärä 30 p. Seminaarityön arvosana lisätään tentin pistemäärään. Onnea tenttiin!

Kysymykset

1. Selitä lankaliitoksen (wire bond) ja flip-chip liitoksen pääperiaatteet ja vertaile tekniikoita keskenään.
(6 p.)

2. Luettele MEMS luokat ja anna jokaisesta luokasta esimerkkisovellus. (6 p.)

3. Miten nanomateriaaleja voidaan hyödyntää elektroniikassa? (6 p.)

4. Millä tavalla passiiveja voidaan integroida? (6 p.)

5. Millä tavoin paketin tai alustan sähköisiä kytkentöjä voidaan testata (interconnection tests)?

We use cookies

This website uses cookies, including third-party cookies, only for necessary purposes such as saving settings on the user's device, keeping track of user sessions and for providing the services included on the website. This website also collects other data, such as the IP address of the user and the type of web browser used. This information is collected to ensure the operation and security of the website. The collected information can also be used by third parties to enable the ordinary operation of the website.

FI / EN